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May 06, 2023

Un fournisseur de semi-conducteurs en carbure de silicium choisit le système Aehr FOX pour le test et la gravure au niveau des plaquettes

FREMONT, CA / ACCESSWIRE / 25 janvier 2023 / Systèmes de test Aehr (NASDAQ:AEHR),

FREMONT, CA / ACCESSWIRE / 25 janvier 2023 / Systèmes de test Aehr (NASDAQ : AEHR), un fournisseur mondial d'équipements de test de production de semi-conducteurs et de qualification de fiabilité, a annoncé aujourd'hui qu'un nouveau client a sélectionné son système de test et de déverminage FOX-PTM pour être utilisé pour la qualification et le test de niveau de tranche de production et le déverminage de leur carbure de silicium dispositifs pour véhicules électriques automobiles.

Ce nouveau client, qui est un fournisseur de semi-conducteurs en carbure de silicium et en nitrure de gallium, a choisi la solution FOX d'Aehr en raison de sa capacité éprouvée à mettre en œuvre de manière rentable ses exigences de déverminage et de stabilisation cibles, y compris une traçabilité à 100 % que chaque dispositif sur la plaquette est correctement brûlé.

Ce client commencera la qualification de son appareil en utilisant un fournisseur mondial d'assemblage et de test de semi-conducteurs externalisé (OSAT) qui s'est associé à Aehr et dispose d'une capacité de système FOX-P installée et capable d'effectuer des tests de niveau complet de tranche de carbure de silicium et de déverminage à 100 % de dispositifs par plaquette en une seule insertion. Le client achètera les contacteurs de tranche complète FOX WaferPakTM et les programmes de test d'applications exclusifs d'Aehr, ainsi que les services de test du fournisseur d'assemblage et de test pour la qualification initiale de l'appareil. Lors de la qualification des appareils, le client doit acheter le nouveau système FOX-P et la capacité WaferPak directement auprès d'Aehr ou via cet OSAT.

Gayn Erickson, président et chef de la direction d'Aehr Test Systems, a déclaré : « Nous sommes très heureux d'annoncer qu'un autre nouveau client a choisi notre solution FOX pour tester et roder ses appareils en carbure de silicium. Traçabilité et preuve que chaque appareil est rodé pendant la durée de test nécessaire, sans aucune chance d'échapper au test qui pourrait permettre à un appareil de traverser le processus et de tomber en panne plus tard sur le terrain, est essentielle pour les applications automobiles dans lesquelles ces appareils seront utilisés. Dans le cas du carbure de silicium utilisé dans les onduleurs de traction qui convertissent l'alimentation CC haute tension de la batterie en courant alternatif qui entraîne les moteurs électriques, une panne de l'appareil entraîne un «événement de retour à la maison», où le conducteur et tous les passagers sortent du véhicule et rentrent chez eux à pied.

"Les systèmes FOX-P d'Aehr et les contacteurs WaferPak complets exclusifs permettent à nos clients d'effectuer des tests de volume de production économiques et de roder la fiabilité avec des processus tels que la polarisation de porte à haute température (HTGB) et la polarisation inverse à haute température (HTRB) de manière très rentable et garantissent qualité extrêmement élevée de l'appareil.Nos systèmes offrent une durée de cycle de test d'une durée de 12, 18 ou 24 heures ou plus pour des sous ou des cents par coût d'amortissement du capital de l'appareil, et dans une empreinte jusqu'à 18 fois inférieure à celle d'un système de test typique sur un testeur standard de plaquettes semi-conductrices proposé par d'autres fournisseurs.

"Aehr s'est associé à cet OSAT pour fournir un support clé en main de multiples applications, y compris les dispositifs photoniques au silicium utilisés dans les données, la 5G, et les futures unités centrales de traitement (CPU) et chipsets, en plus du carbure de silicium et du nitrure de gallium utilisés dans les véhicules électriques, solaires, infrastructures industrielles et autres Nous encourageons les entreprises intéressées à en savoir plus sur ce partenariat OSAT avec Aehr à contacter notre service commercial pour en savoir plus.

"Les prévisions de William Blair estiment que le marché du carbure de silicium pour les seuls appareils des véhicules électriques, tels que les onduleurs de traction et les chargeurs embarqués, devrait passer de 119 000 tranches de carbure de silicium équivalentes de 6 pouces pour les véhicules électriques en 2021 à plus de 4,1 millions de tranches équivalentes de 6 pouces en 2030, ce qui représente un taux de croissance annuel composé (TCAC) de 48,4 %. Cela équivaut à près de 35 fois plus en 2030 qu'en 2021. En outre, des tranches de carbure de silicium équivalentes de 6 pouces destinées à d'autres marchés tels que les infrastructures d'électrification solaires, industrielles et autres devraient atteindre trois millions de wafers supplémentaires d'ici 2030.

"La famille FOX de systèmes compatibles, y compris les systèmes de test et de rodage multi-wafers FOX-NP et FOX-XP et les contacteurs WaferPak complets exclusifs d'Aehr, offrent une solution unique et rentable pour graver plusieurs wafers d'appareils en une seule fois. pour éliminer les défaillances précoces des dispositifs en carbure de silicium, ce qui est essentiel pour répondre à la qualité initiale et à la fiabilité à long terme dont l'industrie automobile, industrielle et des infrastructures d'électrification a besoin.Le système FOX-XP peut être configuré avec jusqu'à 9 ou 18 tranches selon sur les exigences de test et la configuration d'alimentation spécifiques du client et est entièrement compatible avec le système FOX-NP d'Aehr, qui est un système à deux tranches qui convient parfaitement à l'introduction et à la qualification de nouveaux produits.

Les systèmes FOX-XP et FOX-NP, disponibles avec plusieurs configurations de contacteurs WaferPak (test de plaquette complète) ou plusieurs supports DiePakTM (test de puce/module isolé), sont capables de tester le fonctionnement et de déverrouiller/cycler des dispositifs tels que le carbure de silicium et les semi-conducteurs de puissance au nitrure de gallium, la photonique au silicium ainsi que d'autres dispositifs optiques, les capteurs 2D et 3D, les mémoires flash, les capteurs magnétiques, les microcontrôleurs et d'autres circuits intégrés de pointe dans l'un ou l'autre des facteurs de forme de tranche, avant qu'ils ne soient assemblés en une ou plusieurs matrices boîtiers empilés, ou dans un facteur de forme de puce ou de module isolé.

À propos des systèmes de test Aehr

Basé à Fremont, en Californie, Aehr Test Systems est un fournisseur mondial de systèmes de test pour les dispositifs à semi-conducteurs à graver au niveau des tranches, des puces individuelles et des composants de boîtier, et a installé plus de 2 500 systèmes dans le monde. Les besoins accrus en matière de qualité et de fiabilité des marchés des circuits intégrés de l'automobile et de la mobilité entraînent des exigences de test supplémentaires, des besoins de capacité supplémentaires et de nouvelles opportunités pour les produits Aehr Test dans les tests de boîtier, de niveau de plaquette et de niveau de puce/module isolés. Aehr Test a développé et lancé plusieurs produits innovants, notamment les familles ABTSTM et FOX-PTM de systèmes de test et de rodage et FOX WaferPakTM Aligner, FOX WaferPak Contactor, FOX DiePak® Carrier et FOX DiePak Loader. Le système ABTS est utilisé dans les tests de production et de qualification de pièces emballées pour les dispositifs logiques de puissance inférieure et supérieure ainsi que pour tous les types courants de dispositifs de mémoire. Les systèmes FOX-XP et FOX-NP sont des systèmes de test et de rodage de puces/modules entièrement en contact avec les tranches et singuliers utilisés pour le rodage et le test fonctionnel de dispositifs complexes, tels que les semi-conducteurs de puissance à base de carbure de silicium de pointe, les mémoires, processeurs de signaux numériques, microprocesseurs, microcontrôleurs, systèmes sur puce et dispositifs optiques intégrés. Le système FOX-CP est une nouvelle solution compacte de test et de vérification de la fiabilité monowafer à faible coût pour les dispositifs logiques, de mémoire et photoniques et le plus récent ajout à la famille de produits FOX-P. Le contacteur WaferPak contient une carte de sonde de plaquette complète unique capable de tester des plaquettes jusqu'à 300 mm qui permet aux fabricants de circuits intégrés d'effectuer des tests et de roder des plaquettes complètes sur les systèmes Aehr Test FOX. Le DiePak Carrier est un emballage temporaire réutilisable qui permet aux fabricants de circuits intégrés d'effectuer un test final et un rodage rentables des puces nues et des modules. Pour plus d'informations, veuillez visiter le site Web d'Aehr Test Systems à l'adresse www.aehr.com.

Déclaration de sphère de sécurité

Ce communiqué de presse contient certaines déclarations prospectives au sens de la section 27A du Securities Act de 1933 et de la section 21E du Securities Exchange Act de 1934. Les déclarations prospectives concernent généralement des événements futurs ou les performances financières ou opérationnelles futures d'Aehr. Dans certains cas, vous pouvez identifier les énoncés prospectifs parce qu'ils contiennent des mots tels que « peut », « sera », « devrait », « s'attend à », « prévoit », « anticipe », « va », « pourrait », "a l'intention de", "cible", "projette", "envisage", "croit", "estime", "prédit", "potentiel" ou "continue", ou le négatif de ces mots ou d'autres termes ou expressions similaires qui concernent les attentes, la stratégie, les priorités, les projets ou les intentions d'Aehr. Les déclarations prospectives contenues dans ce communiqué de presse incluent, mais sans s'y limiter, les besoins et commandes futurs des clients nouveaux et existants d'Aehr ; les réservations prévues pour les consommables exclusifs WaferPakTM et DiePak ; et les attentes liées à la demande à long terme pour les productions d'Aehr et l'attractivité des marchés clés. Les déclarations prospectives contenues dans ce communiqué de presse sont également soumises à d'autres risques et incertitudes, y compris ceux décrits plus en détail dans le récent formulaire 10-K, 10-Q d'Aehr et d'autres rapports déposés de temps à autre auprès de la Securities and Exchange Commission. Aehr décline toute obligation de mettre à jour les informations contenues dans les déclarations prospectives pour refléter des événements ou des circonstances survenus après la date de ce communiqué de presse.

Contacts:

Systèmes de test AehrVernon RogersVP ventes et marketing(510) 623-9400 [email protected]

Relations avec les investisseurs MKR Inc.Todd Kehrli ou Jim ByersAnalyste/Investisseur Contact(213) [email protected]

SOURCE:Systèmes de test Aehr

Voir la version source sur accesswire.com : https://www.accesswire.com/736663/Silicon-Carbide-Semiconductor-Supplier-Selects-Aehr-FOX-System-for-Wafer-Level-Test-and-Burn-in- des-dispositifs-au-carbure-de-silicium-pour-les-véhicules-électriques-automobiles

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